Описание
Компактный оптический профилометр для микроструктур и шероховатостейr
r
TopMap Micro.View® — это компактная измерительная система семейства интерферометров белого света TopMap, позволяющая проводить повторяемые проверки и оценки параметров структуры поверхности, текстуры и шероховатости поверхности с высоким разрешением. Благодаря встроенной технологии непрерывного сканирования CST, перемещение по оси Z на 100 мм обеспечивает полный диапазон измерений в 100 мм с вертикальным разрешением в диапазоне нанометров. Этот оптический профилометр отличается компактным дизайном со встроенной электроникой и впечатляет простотой использования — например, благодаря автоматической функции Focus Finder для быстрых и эффективных измерений в производственных условиях и испытательных лабораториях.r
r
+ Полный ареальный и 3D анализ топографии шероховатостей, текстур и микроструктурr
+ Компактная профилометрическая система для анализа деталей поверхностиr
+ Большой вертикальный диапазон измерений 100 мм с технологией непрерывного сканирования CSTr
+ Отличное боковое разрешениеr
+ Цели, специфичные для конкретного примененияr
r
Свяжитесь с нами для демонстрации, технико-экономического обоснования на ваших конкретных образцах и получения дополнительной информации.
