Description
► Независимые головки Tx и Rx с волоконной связью
► Спектроскопия в реальном времени
► Широкополосная чувствительность до 4,0 ТГц
► Режимы пропускания и отражения
► Множество вариантов объективов для различных условий визуализации
► Точка измерения обозначается лазерной направляющей для точного выравнивания
Возможности
► Измерения отражения в режиме ожидания
► Превосходно подходит для спектроскопических и визуализационных приложений, включая неразрушающий контроль
► Проникает во многие диэлектрические материалы
► Измерения толщины и покрытий
► Дополнительный XY-каскад для быстрых и удобных измерений изображений
