Description
Оптика микроскопа для тепловизионного изображения электронных компонентов и плат на уровне чипа
Новые объективы для микроскопов разработаны специально для тепловизионного контроля электронных плат и анализа небольших компонентов на уровне микросхем размером до 8 мкм. Расстояние между объектом измерения и камерой может составлять от 80 до 100 мм (MO44) или 15 мм (MO2X).
Важные технические характеристики
— Анализ малых компонентов на уровне микросхем до 8 мкм
— Сменная оптика с возможностью фокусировки для наиболее гибкого использования c amera
— В комплект входит стойка для микроскопа для одновременной работы и тестирования без помощи рук
— Сменные объективы с возможностью фокусировки для наиболее гибкого использования камеры
— Температурное разрешение (NETD) 80 мК
— Частота кадров до 125 Гц позволяет контролировать быстрые процессы (например, импульсные лазерные диоды)
— Радиометрическая запись видео или tiff с точностью измерения +/-2 °C
— Безлицензионное программное обеспечение для анализа и полный SDK в комплекте
