Описание
Технология ширографии является лазерным методом измерения и производной от традиционного электронного интерферометрического метода измерения пятен (ESPI). Такая адаптация системы Shearography позволяет использовать ее в полевых условиях в невибрационных изолированных условиях, сохраняя при этом высокую чувствительность измерений, которую лазерная резательная аппаратура обеспечивает конечному пользователю в радиусе 30 нм вне плоскости (z-направление).
Процедура измерения:
Ширографический датчик освещает поверхность крапчатым лазерным светом, испускаемым лазерными диодами. Отражение лазерного света переносит информацию о поверхности на наблюдающую ПЗС-камеру. Для результатов измерений при сдвиговой съемке всегда требуется эталонное изображение и загрузочное изображение компонента. Подверженный нагрузке (тепловой импульс, вакуум и т.д.) исследуемый материал имеет локальную деформацию (изображение нагрузки). Из загрузочного изображения ссылка вычитается. Местный дефект проявляет другое поведение под воздействием нагрузки, чем окружающие его здоровые участки.
Так как Ширография — это дифференциальный метод измерения со срезанными пучками объекта, который обеспечивает стабильность системы для использования в полевых условиях. Обнаруживается не деформация дефекта, а градиент деформации. Поэтому типичные изображения дефектов ширографии показывают дефект бабочки, который виден в анимации ниже.
