Description
FOTON-X 6040F
-Обнаружение посторонних веществ (камень, пластик, стекло, металл и т.д.) в упакованных и неупакованных пищевых продуктах
-Классификация на основе атомного номера
-Хранение отсканированного рентгеновского изображения с метаданными
