Description
Кинометрия была основана в 1995 году с целью сделать тонкопленочные измерения простыми и доступными. Она является всемирно известным производителем пленочных измерений, а ее система обозначена крупными компаниями и широко используется известными школьными исследовательскими подразделениями. Путем отражения, или пропускания, можно измерять толщину пленки от tnm до 13 мм. Также нет движущихся частей, результаты доступны в считанные секунды: толщина пленки, цвет, индекс преломления, и даже шероховатости Это полезный и надежный инструмент для мониторинга процесса и повышения выхода продукции.
Особенность
— Простота монтажа и эксплуатации
— Конфигурация с массивным детектором, стабильным источником света для достижения быстрого и высокостабильного измерения
— Иметь не менее 1000 материалов, библиотечные данные. Пользователь Aleo может создать собственную базу данных.
— Предоставлять различные конфигурации в зависимости от приложения и системы могут быть легко расширены.
— Потребуется несколько секунд, чтобы получить результаты без сложного обучения. Также цена по сравнению с эллипсометрией намного дешевле.
Область применения:
— Аморфный — поликремний и наноматериалы
— Химическо-механическая планаризация (ХМП)
— Оптическое покрытие и диэлектрики
— Твердый плащ (экс:Твердый плащ на автомобильной фаре)
— анализ неисправностей ИС
— (ТО и другие ТСО
— Медицинские и биомедицинские приборы
— LCD &OLED (ITO, PR, разрыв между ячейками)
— Органические покрытия
— Офтальмологические покрытия
— Фоторезист
— Пористый кремний
— Солнечные приложения
— Веб-покрытия
