Description
Чтобы соответствовать современным быстро меняющимся тенденциям рынка, система может решать сложные задачи контроля, такие как области с высокой плотностью монтажа компонентов, содержащие высокоминиатюрные детали, расположенные рядом с более крупными и высокими компонентами.
С нашей новой системой 3D AOI вы сможете усилить контроль качества и повысить эффективность производства.
Недавно разработанная система камер высокого разрешения обеспечивает резкую фокусировку изображения и улучшенное разрешение для контроля крошечных компонентов, таких как 0402 мм или 0201 мм SMD-чипы, ИС с мелким шагом и близко расположенные площадки.
Команда экспертов Saki по оптическому контролю занимается разработкой программного обеспечения собственными силами. Это обеспечивает оптимальное взаимодействие и координацию с различными аппаратными подсистемами, что позволяет добиться самого быстрого в отрасли времени цикла. Алгоритмы захвата, обработки и проверки изображений выполняются параллельно, что сводит к минимуму время ожидания.
Уникальный алгоритм контроля пайки Saki повышает точность проверки «прошел/не прошел», оценивая как форму паяного филе, так и высоту смачивания.
