Description
Серия профилометров Panasonic UA3P предназначена для измерения асферических линз и пресс-форм, полупроводниковых пластин и любых других прецизионных компонентов, требующих точности нанометрового уровня в диапазоне до 200 мм x 200 мм. Доступны различные модели машин для удовлетворения ваших потребностей в оптике и метрологии с высоким соотношением сторон.
UA3P-300, UA3P-4 и UA3P-5 предлагают пользователям точность технологии АСМ с диапазоном измерений КИМ. Наш уникальный подход использует технологию атомно-силового датчика в щупе и интерферометрическое позиционирование по оси XYZ на основе гелий-неонового лазера.
Сочетание этой технологии с прочным гранитным основанием позволяет получить надежную метрологическую систему, которая может использоваться на производстве и при этом обеспечивать суммарную неопределенность на уровне 0,1um.
— UA3P может измерять асферические линзы, зеркала свободной формы и их формы, которые необходимы для цифровой потребительской электроники, такой как мобильные телефоны, DSC, DVD и Blu-ray рекордеры, а также для домашней безопасности, оптических коммуникаций и транспортных средств
— Сверхточные измерения всего за 3 минуты
— Автоматическая генерация программ ЧПУ
— Обширная библиотека дополнительного программного обеспечения
— Простое управление поддерживает быструю обратную связь с процессом обработки
Внешние размеры (Ш x Г x В) мм — 700 x 780 x 1 500
Масса основного корпуса — 700 кг (другие: 150 кг)
Диапазон измерений (оси X, Y, Z) мм — 30x30x20
Площадь размещения измеряемого объекта (по осям X, Y, Z) мм — 100x100x100
Измерительный зонд — AFP
Разрешение — 0,3 нм
Макс. Угол наклона для измерения верхней поверхности — 75º
