Описание
Лазерный дифракционный анализатор размера частиц LS 13 320 XRr
LS 13 320 XR — инструмент, который выводит лазерный дифракционный анализ размера частиц на новый уровень. Благодаря усовершенствованной технологии PIDS он характеризуется высокой разрешающей способностью, расширенным динамическим диапазоном измерений и предоставляет самые точные данные по распределению размеров частиц в сравнении с аналогичными инструментами.r
r
Подобно предыдущей версии LS 13 320 анализатор LS 13 320 XR позволяет быстро получать надежные результаты и оптимизировать эффективность рабочих процессов. А некоторые существенные улучшения помогают обнаруживать малейшие отличия, которые способны повлиять на результаты анализа данных.r
• Расширенный диапазон прямых измерений: 10 нм – 3 500 мкмr
• Ускоренный контроль качества: автоматическое выявление непригодных результатовr
• Оптимизированное ПО упрощает создание методов для стандартизованных измеренийr
• Метод рекомендован в XIII издании Российской Фармакопеи ОФС.1.2.1.0008.15 «Определение распределения частиц по размеру методом лазерной дифракции света»r
• Метод определен стандартом ISO 13320 «Гранулометрический анализ. Методы лазерной дифракции»r
r
Возможности измеренийr
• Диапазон измерений: 10 нм – 3 500 мкмr
• 126 детекторов прямого светорассеянияr
• 6 детекторов PIDSr
• 2 модуля подачи образцов: для порошков и жидкостейr
• Среднее время анализа: 30 – 90 секr
r
Технологииr
• Прямое светорассеяние под малыми угламиr
• Технология PIDS: анализ различий в паттернах рассеяния вертикально и горизонтально поляризованного света 3-х длин волн (450, 600 и 900 нм) под 6 угламиr
r
Простое ПОr
• Автоматический контроль качества
