Описание
S wide представляет собой специальную систему, предназначенную для быстрого измерения больших участков образца размером до 300 x 300 мм. Она обеспечивает все преимущества цифрового микроскопа, интегрированного в измерительный прибор высокого разрешения. Исключительно простая в использовании система с одной единственной кнопкой.
Большая площадь 3D оптическая метрологическая система
— Передовое производство
— археология и палеонтология
— Бытовая электроника
— Медицинская техника
— Формовка
— Оптика
— Часовая индустрия
Повторяемость субмикронной высоты на всей протяженной площади
Измерение высоты одного выстрела до 40 мм без Z-сканирования
Биотелецентрические линзы с очень низким уровнем дисторсии поля, что обеспечивает точность измерений
Отклонение формы от 3D CAD-моделей
обеспечение геометрической разности и измерение допуска
