Описание
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) четвертого поколения TESCAN VEGA с источником электронов на основе вольфрамовой нити сочетает в одном окне программного обеспечения Essence™ компании TESCAN VEGA визуализацию СЭМ и анализ живого элементного состава. Это сочетание значительно упрощает получение как морфологических, так и элементарных данных из образца, делая РЭМ VEGA эффективным аналитическим решением для рутинного контроля материалов в лабораториях контроля качества, анализа неисправностей и исследований.
— Аналитическая платформа с полностью интегрированной системой TESCAN Essence™ EDS, которая эффективно сочетает в одном окне программного обеспечения Essence™ визуализацию СЭМ и анализ элементного состава.
— Оптимальные условия для получения изображений и анализа сразу же становятся доступными благодаря уникальной безапертурной оптической конструкции TESCAN, основанной на технологии In-flight Beam Tracing™.
— Легкая и точная СЭМ-навигация на образце при увеличении до 2× без использования дополнительной оптической навигационной камеры благодаря уникальной конструкции Wide Field Optics™.
— Режим SingleVac™ в качестве стандартной функции для наблюдения заряженных и чувствительных к лучу образцов.
— Интуитивно понятное и модульное программное обеспечение Essence™, разработанное для легкой работы независимо от уровня опыта пользователя.
— Максимальная безопасность детекторов, установленных в камере, когда столик и образец находятся в движении, гарантируется моделью Essence™ 3D Collision.
— Дополнительный вакуумный буфер значительно сокращает время работы ротационного насоса, что обеспечивает как экологические, так и экономические преимущества.
— Модульная аналитическая платформа, которая может быть опционально оснащена самым широким выбором полностью интегрированных детекторов (например, CL, BSE с водяным охлаждением или RAMAN спектрометр).
