Описание
Инспекция полупроводниковых приборов — важнейший этап производственного процесса в микроэлектронике. Она включает в себя высокоточную проверку на наличие дефектов на нескольких этапах производства, регистрацию и вывод результатов, а также генерирование информации, связанной с контролем качества, к которой можно получить доступ и немедленно принять меры для повышения общего выхода продукции.
CIMS предлагает автоматизированные решения для инспекции пластин с рисунком, а также различные продукты с выходом и входом для WLP (упаковка на пластинах) и PLP (упаковка на уровне панелей). АОИ CIMS для микроэлектроники помогают нашим клиентам значительно повысить производительность производственного процесса, а также улучшить качество конечного продукта.
Метрология и дополнительные возможности контроля
Дополнительные метрологические опции CIMS предназначены для дальнейшего расширения возможностей контроля полупроводниковых устройств. Эти опции могут быть интегрированы с оборудованием CIMS, обеспечивая новый уровень гарантии качества для наших клиентов.
Дополнительные опции CIMS включают уникальные возможности 2D- и 3D-метрологии, позволяющие выполнять расширенные измерения в ходе обычного цикла контроля. Это устраняет необходимость в автономных специализированных метрологических системах и сокращает цикл обратной связи QA.
