Описание
Системы GEN5 и GEN6 Exicor® блоки измерения образца большого формата построенные на технологии измерения birefringence Exicor сердечника низкоуровневой и автоматизированных точностью элементах управлением движения. Эти платформы обеспечивают unsurpassed низкоуровневые измерения birefringence для того чтобы поддержать характеризацию точность материалов отнесенных дисплеем для индустрии LCD (субстратов пленки компенсации поколения 5+ и стеклянных, etc.) системы отсталы — совместимо с моделями более предыдущего поколения. Конструкции системы масштабируемый к более большим материалам и могут легко быть приспособлены к другим non-display материальным применениям как материалы низкого техника покрывая и коммерчески стекло окна.
С scanable зоной 1150 mm x 1375 mm, система GEN5 использует запатентованный этап решетки провода высокой напряженности для того чтобы увеличить измеряемую зону на образце пока уменьшающ провес и сгибание образца. С опционной высокоскоростной разверткой в варианте Motion™ (SIM), система может характеризовать образец в фракция времени нормальная скеннирование приняла бы (как немногая как 12 оцененной минуты,).
