Описание
CL-2400 конструировано для измерений на проводниках, как алюминиевые диски, и полупроводников, как вафли кремния. Толщина измерена по мере того как материал под измерением проходит через зазор сформированный между 2 сопротивляясь датчиками зазора. CL-2400 можно использовать для static или идущих измерений толщины. Выход BCD, интерфейс RS-232C, и входные сигналы дистанционного управления обеспечены для внешнего управления, анализа, и автоматизации измерения.
