Description
Сканер PX для локального дифракционного просеивания на месте
Сканер PX представляет собой полностью интегрированную систему для локального экранирования и сбора данных о кристаллах в кристаллизационных пластинах SBS и микрожидкостных микросхемах. Эта система «под ключ» сочетает визуализацию образцов и рентгеновский скрининг на месте, предоставляя компактный инструмент для оценки качества образцов без необходимости удаления кристаллов из их защищенной среды роста. Система включает в себя микрофокусный герметичный рентгеновский генератор Cu-лучей, систему формирования кристаллических изображений, автоматический лоток с 6 градусами наклона, CCD детектор и интуитивное программное обеспечение CrystalEyes. С помощью сканера PX можно быстро определить, содержит ли кристалл соль или белок, и оценить дифракционное качество образцов без удаления из кристаллизационной пластины.
Программное обеспечение CrystalEyes
В сканере PX используется программное обеспечение CrystalEyes, позволяющее пользователям выстраивать многократные кристаллы в очередь на мгновенное сканирование с помощью нескольких капель. Программное обеспечение включает в себя инструменты автоматического уменьшения данных и простой в использовании графический интерфейс для просмотра изображений и результатов рентгеновской дифракции.
