Описание
Оптическая система измерения толщины наногаука C10178 представляет собой бесконтактную систему измерения толщины пленки с использованием спектральной интерферометрии. Толщина пленки измеряется быстро с высокой чувствительностью и высокой точностью посредством спектральной интерферометрии. В нашей продукции в качестве детекторов используется многоканальный спектрометр PMA, который позволяет измерять квантовые выходы, отражение, передачу/поглощение и различные другие точки, одновременно измеряяя толщину различных оптических фильтров и пленок покрытия и многое другое.
Особенности
— Высокая скорость и точность (Диапазон измерения толщины пленки (стекло): 150 nm～50 μm)
— Измерение в реальном времени
— Точное измерение колеблющейся пленки
— Анализировать оптические константы (n, k)
— Внешний контроль доступен
— Квантовый выход, отражение, пропускание и поглощение могут быть измерены с помощью специальных принадлежностей
Спецификации
Номер типа: C10178-03E
Модели измерения (особенности) : поддерживает БИК
Диапазон измеряемой толщины пленки (стекло): от 150 нм до 50 мкм*1
Воспроизводимость измерений (стекло) : 0,05 нм*2 *3
Точность измерения (стекло) : ±0,4 %*3 *4
Источник света : Источник света галоида
Длина волны измерения: от 900 нм до 1650 нм
Размер пятна: Приблизительно φ1 мм*3
Рабочее расстояние: 10 мм*3
Количество измеряемых слоев : макс. 10 слоев
Анализ : БПФ-анализ, анализ посадки, оптический постоянный анализ
Время измерения: 19 мс/точка*5
Форма волоконного разъема : φ12 форма втулки
Внешняя функция управления : RS-232C, PIPE, Ethernet
Источник питания : AC200 В до AC240 В, 50 Гц/60 Гц
Потребляемая мощность: прибл. 230 ВА
