Description
Микронный 2D Штангенрейсмас производства МИКРОТЕХ позволяет проводить высокоточные измерений в двух координатах. Дискретность измерения в координате Z — 1 микрон, в координате X — 0.1 микрон.r
Данные измерений отображаются и сохраняются внутри компьютеризированной MICS системы разработки МИКРОТЕХ и могут передаваться на приложение МИКРОТЕХ MDS Pro для обработки данных, сохранения 2D, 1D графика, архивации данных либо передачи во внешние Windows приложения.r
Все Штангенрейсмасы МИКРОТЕХ проходят метрологический контроль а аккредитованной по ISO 17025 лаборатории.
