Поставки оборудования по России

Микроскоп AFM Nanite для измерений для анализов для контроля

Описание

Морфология поверхности — важное свойство для многих высокотехнологичных поверхностей с размерами до нескольких нанометров и шероховатостью поверхности менее одного нанометра. Nanite — это инструмент для анализа поверхности деталей любых форм и размеров. Он обеспечивает измерения с наноразмерной точностью и сам по себе достаточно мал, чтобы его можно было интегрировать практически в любую мыслимую среду.

Количественный анализ поверхности в наномасштабе

Точный анализ поверхности на наноуровне необходим в различных отраслях промышленности — от нанотехнологий до хранения данных и прецизионной оптики. Nanite служит бесценным инструментом для выявления сложных наноразмерных деталей поверхности, включая субнанометровые шероховатости, имеющие решающее значение для различных приложений.

Ограничения по образцам — нет

Контроль качества и технологических процессов часто требует анализа крупных деталей или компонентов, которые невозможно разделить на более мелкие сегменты. Будь то крупные образцы или замысловатые кривые, Nanite гарантирует точные измерения без ущерба для целостности заготовки. С Nanite вы можете быть уверены, что ваши образцы останутся неповрежденными и неизменными на протяжении всего процесса анализа.

Почти безграничная интеграция

Компактный NaniteAFM (менее 48 x 87 x 61 мм) легко интегрируется в существующие пользовательские системы или пользовательские этапы, разработанные инженерами Nanosurf. Такая гибкость позволяет исследователям включать возможности АСМ в уже существующие рабочие процессы, зачастую без существенных изменений. Более того, скриптовый интерфейс прибора позволяет пользователям интегрировать управление АСМ в существующие системы или использовать опыт Nanosurf для разработки дизайна сцены и функций автоматизации.

Детали

Модель

Nanite

Бренд

Nanosurf